激光粒度儀是一種性能優(yōu)良的粒度分布儀，它采用進口的半導體激光器，功率大、壽命長、單色性好；專門設計的由大規(guī)模集成電路工藝制造的大尺寸高靈敏度光電探測器陣列；蠕動循環(huán)泵和微量樣品池兩種進樣方式；全程米氏理論和多種分布模型的數(shù)據(jù)處理方式；高精度的數(shù)據(jù)傳輸與處理電路等一系列先進的技術(shù)和制造工藝，使該儀器具有準確可靠、測試速度快、重復性好、操作簡便等突出特點。是集激光技術(shù)、計算機技術(shù)、光電子技術(shù)于一體的新一代粒度測試儀器。

一、性能指標

1. 測試范圍：0.1—340μm。
2. 進樣方式：微量樣品池式和循環(huán)泵式。
3. 重復性誤差：小于1%（標樣D50相對偏差）。
4. 準確度誤差：小于1%(標樣D50相對偏差)。
5. 激光光源：進口半導體激光器。
6. 接口方式：RS232(串口)或USB方式。
7. 測試時間：一般2-3min/次。
8. 電壓220V 。

二、測試對象

1. 各種非金屬粉：如重鈣、輕鈣、滑石粉、高嶺土、石墨、硅灰石、水鎂石、重晶石、云母粉、膨潤土、硅藻土、黏土等。
2. 各種金屬粉：如鋁粉、鋅粉、鉬粉、鎢粉、鎂粉、銅粉以及稀土金屬粉、合金粉等。
3. 其它粉體：如催化劑、水泥、磨料、醫(yī)藥、農(nóng)藥、食品、涂料、染料、熒光粉、河流泥沙、陶瓷原料、各種乳濁液等。

三、基本特點

1. 儀器采用先進的成型工藝，使儀器的結(jié)構(gòu)緊湊合理，外形美觀大方，使用維護方便；采用*的抗干擾技術(shù)，使儀器的電氣穩(wěn)定性更好，故障率更低。
2. 本系統(tǒng)提供微量樣品池和循環(huán)泵兩種進樣方式，可以根據(jù)需要選擇一種或兩種進樣方式的配置，兩種進樣方式的轉(zhuǎn)換方便快捷。
3. 為滿足不同樣品的測試和對比的需要，數(shù)據(jù)處理方法有米氏散射與弗朗和費衍射兩種方法，每一種方法中還包含多種分布模型。用戶可根據(jù)實際需要選擇不同的數(shù)據(jù)處理方法和分布模型。
4. 采用串行數(shù)據(jù)傳輸方式，可以方便地與各種臺式電腦、筆記本電腦連接組成粒度測試系統(tǒng)，*告別了傳統(tǒng)的板卡連接方式。
5. *設計的具有76個探測器的光電探測器陣列，使儀器的分辨率更高；測試軟件界面友好、操作簡便。具有結(jié)果存儲、查詢、比較、合并、編輯、刪除、幫助等功能功能。

具有中英、文六種不同的報告單格式，內(nèi)容包括累計粒度分布數(shù)據(jù)與曲線、區(qū)間粒度分布數(shù)據(jù)與直方圖、典型粒徑值如D3、D10、D25、D50、D75、D84、D90、D97、D98等。報告單的格式、色彩、字體可以根據(jù)需要任意編輯。